La placa de evaluación EVBUM2897G-EVB de onsemi está diseñada para la medición comparativa de MOSFET e IGBT Elite SiC en varios paquetes discretos. La placa EVBUM2897G-EVB de onsemi permite a los usuarios probar y evaluar rápidamente el rendimiento de conmutación de dispositivos en seis tipos de paquetes: TO247-3L, TO247-4L, D2PAK-7L, BPAK7, TOLL y POWER88. Este sistema proporciona una solución eficiente para pruebas de rendimiento y comparación de dispositivos, con funcionalidad DPT discreta para una operación simplificada.
